T/CECA 112.1-2025是中国电子元件行业协会发布的团体标准，全称为《表面安装多层陶瓷电容器（MLCC）电性能老化测试方法 第1部分：直流偏置电压老化测试》。该标准于2025年8月25日正式发布，旨在规范MLCC产品在直流偏置电压条件下的老化测试方法，填补了国内该领域测试标准的空白‌1。

该标准的制定背景源于国内MLCC行业对可靠性评估的迫切需求。此前，由于缺乏统一的测试标准，不同厂商在直流偏置电压老化测试中存在方法差异，导致测试结果可比性不足。2025年7月2日，中国电子元件行业协会组织风华高科等十余家企业开展了联合验证试验，确认了测试方法的普适性和可操作性，最终通过专家审查形成报批稿‌2。

标准主要内容包括：

1. ‌测试原理‌：规定通过施加直流偏置电压加速MLCC老化，评估其电性能退化规律；
2. ‌样品要求‌：明确样品规格、数量及预处理条件；
3. ‌试验程序‌：详细描述测试设备、电压应力条件、温度环境等参数设置；
4. ‌数据整理‌：规范容量变化率、绝缘电阻等关键指标的测量与计算方法‌3。

该标准的实施将提升MLCC产品的可靠性评估一致性，为汽车电子、5G通信等高端应用领域提供质量保障，同时推动国内MLCC产业与国际标准接轨‌

T/CECA 112.2-2025《表面安装多层陶瓷电容器(MLCC)电性能老化测试方法 第2部分：长周期高温绝缘电阻测试》是中国电子元件行业协会于2025年8月25日发布的团体标准，由风华高科牵头制定，旨在填补MLCC长周期可靠性测试方法的国家标准空白‌12。该标准主要针对MLCC在高温环境下的绝缘性能退化问题，规定了测试条件、设备要求及数据评估方法，适用于评估电容器在长期高温工作环境中的稳定性‌13。其核心价值在于通过统一测试规范，解决行业内因方法差异导致的数据可比性问题，为AI服务器、新能源汽车等高端应用领域的MLCC选型提供可靠性依据‌34。该标准与T/CECA 112.1-2025共同构成MLCC电性能老化测试的完整体系，推动我国电子元件产业向高质量、国际化方向发展‌12。
该标准的技术框架围绕高温绝缘电阻测试的三大核心环节构建：

1. ‌测试条件设定‌：明确要求采用阶梯升温法（如85℃→125℃→150℃）模拟实际工况，每个温度点需持续至少1000小时，同时施加额定电压以加速绝缘材料老化‌13。
2. ‌设备与数据采集‌：规定使用高精度绝缘电阻测试仪（测量范围≥10^12Ω），并配备温度均匀性±1℃的恒温箱，每24小时自动记录一次绝缘电阻值，确保数据连续性‌3。
3. ‌失效判定标准‌：以绝缘电阻下降率超过初始值50%或出现击穿现象作为失效阈值，同时要求测试样本量≥30颗以排除个体差异‌13。

其实施意义体现在两方面：

• ‌产业层面‌：通过标准化测试流程，减少厂商因方法差异导致的可靠性争议，尤其为AI服务器、工控电源等对MLCC寿命要求严苛的领域提供统一评估工具‌34；
• ‌技术层面‌：首次将长周期（>1000小时）高温测试纳入规范，推动企业优化陶瓷介质配方和电极工艺，例如风华高科据此开发的AE系列产品已实现高温下绝缘电阻波动率<15%‌24。
  该标准与T/CECA 112.1-2025的协同作用，使MLCC从短期性能测试扩展到全生命周期可靠性验证，为国产MLCC参与国际竞争提供技术背书‌